IEC 60147-1F:1973
Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 1: Clasificaciones y características esenciales.

Estándar No.

IEC 60147-1F:1973

Fecha de publicación

1973

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Ultima versión

IEC 60147-1F:1973

Remplazado por

IEC 60747-2:1983 IEC 60747-1:1983 IEC 60747-6:1983

IEC 60147-1F:1973 Historia

• 1972 IEC 60147-1:1972 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 1: Clasificaciones y características esenciales

IEC 60147-1F:1973 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 1: Clasificaciones y características esenciales. ha sido cambiado a IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores.

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