GB/T 13387-1992
Método de prueba para medir la longitud plana en rodajas de materiales electrónicos. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 13387-1992
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1992
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Estado
- 2010-06
- Remplazado por
- GB/T 13387-2009
- Ultima versión
- GB/T 13387-2009
- Alcance
- Esta norma especifica el método de medición de la longitud del plano de referencia de las obleas de material electrónico. Esta norma es aplicable a la medición de la longitud de la superficie de referencia de discos de pulido de silicio, discos abrasivos y discos de corte de varios diámetros. También es adecuado para medir la longitud del plano de referencia de obleas de arseniuro de galio, zafiro y gadolinio y galio y otros materiales.
GB/T 13387-1992 Historia
- 2009 GB/T 13387-2009 Método de prueba para medir obleas de silicio y otros materiales electrónicos de longitud plana.
- 1992 GB/T 13387-1992 Método de prueba para medir la longitud plana en rodajas de materiales electrónicos.
