KS C IEC 62047-8:2015
Dispositivos semiconductores ― Dispositivos microelectromecánicos ― Parte 8: Método de prueba de flexión de tiras para medir la propiedad de tracción de películas delgadas

Estándar No.

KS C IEC 62047-8:2015

Fecha de publicación

2015

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 62047-8-2015(2020)

Ultima versión

KS C IEC 62047-8-2015(2020)

KS C IEC 62047-8:2015 Historia

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