BS EN 60749-44:2016
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores
- Estándar No.
- BS EN 60749-44:2016
- Fecha de publicación
- 2016
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS EN 60749-44:2016
BS EN 60749-44:2016 Documento de referencia
- IEC 62396-4 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Parte 4: Diseño de componentes electrónicos de aeronaves de alto voltaje que gestionan los posibles efectos de un solo evento.
- IEC 62396-5 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radioación atmosférica - Parte 5: Evaluación de flujos de neutrones térmicos y efectos de eventos únicos en sistemas de aviónica
BS EN 60749-44:2016 Historia
- 2016 BS EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores
