IEC 62435-2:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 2: Mecanismos de deterioro. normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de IEC 62435 está relacionada con los mecanismos de deterioro y se ocupa de la forma en que los componentes se degradan con el tiempo dependiendo de las condiciones de almacenamiento aplicadas. Esta parte también incluye orientación sobre métodos de prueba que pueden usarse para evaluar mecanismos genéricos de deterioro. Normalmente, esta parte se utiliza junto con IEC 62435-1 para cualquier dispositivo de almacenamiento a largo plazo cuya duración pueda ser superior a 12 meses para productos programados para almacenamiento de larga duración. Los mecanismos que se aplican a tipos de componentes específicos se detallan en IEC 62435-5 a IEC 62435-9 (propuesto).

IEC 62435-2:2017 Documento de referencia

IEC 60749-20-1:2009 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 20-1: Manipulación, embalaje, etiquetado y envío de dispositivos de montaje superficial sensibles al efecto combinado de la humedad y el calor de soldadura.

2017 IEC 62435-2:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 2: Mecanismos de deterioro.