IEC 62830-3:2017 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para la captación y generación de energía - Parte 3: Captación de energía electromagnética basada en vibraciones normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de IEC 62830 describe términos, definiciones, símbolos, configuraciones y métodos de prueba que pueden usarse para evaluar y determinar las características de rendimiento de los dispositivos de recolección de energía electromagnética basados en vibraciones. Esta parte de IEC 62830 especifica los métodos de prueba y los parámetros característicos de los dispositivos de recolección de energía electromagnética basados en vibración para evaluar su desempeño con precisión y uso práctico. Esta parte de IEC 62830 es aplicable a dispositivos de recolección de energía para aplicaciones de consumo, industrias generales, militares y aeroespaciales sin ninguna limitación de tecnología, forma y tamaño del dispositivo.

IEC 62830-3:2017 Documento de referencia

IEC 60749-10:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico.
IEC 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.
IEC 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.

2017 IEC 62830-3:2017 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para la captación y generación de energía - Parte 3: Captación de energía electromagnética basada en vibraciones