IEC 62899-402-1:2017
Electrónica impresa - Parte 402-1: Imprimibilidad - Medición de calidades - Ancho del patrón

Estándar No.

IEC 62899-402-1:2017

Fecha de publicación

2017

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

ser reemplazado 2025-02

Remplazado por

IEC 62899-402-1:2025 PRV

Ultima versión

IEC 62899-402-1:2025 PRV

Reemplazar

IEC 119/133/FDIS:2016

Alcance

Esta parte de IEC 62899 especifica los métodos de medición de los anchos de los patrones impresos en electrónica impresa. Estos anchos de patrones impresos se tratan como bidimensionales sobre un sustrato. Cuando los patrones se ven definitivamente afectados por configuraciones tridimensionales, éstas se especifican en los métodos de medición del espesor en la electrónica impresa.

IEC 62899-402-1:2017 Documento de referencia

• ISO 291:2008 Plásticos - Atmósferas estándar para acondicionamiento y pruebas.

IEC 62899-402-1:2017 Historia

• 0000 IEC 62899-402-1:2025 PRV
• 2017 IEC 62899-402-1:2017 Electrónica impresa - Parte 402-1: Imprimibilidad - Medición de calidades - Ancho del patrón

estándares y especificaciones