DIN EN 60060-1:2011 Técnicas de prueba de alta tensión - Parte 1: Definiciones generales y requisitos de prueba (IEC 60060-1:2010); Versión alemana EN 60060-1:2010
DIN EN 60068-1:2015 Pruebas ambientales - Parte 1: Generalidades y orientación (IEC 60068-1:2013); Versión alemana EN 60068-1:2014
DIN EN 60068-2-14:2010 Pruebas ambientales - Parte 2-14: Pruebas - Prueba N: Cambio de temperatura (IEC 60068-2-14:2009); Versión alemana EN 60068-2-14:2009
DIN EN 60068-2-17:1995-05 Pruebas ambientales - Parte 2: Pruebas - Prueba Q: Sellado (IEC 60068-2-17:1994); Versión alemana EN 60068-2-17:1994
DIN EN 60068-2-1:2008 Pruebas ambientales - Parte 2-1: Pruebas - Prueba A: Frío (IEC 60068-2-1:2007); Versión alemana EN 60068-2-1:2007
DIN EN 60068-2-2:2008 Pruebas ambientales - Parte 2-2: Pruebas - Prueba B: Calor seco (IEC 60068-2-2:2007); Versión alemana EN 60068-2-2:2007
DIN EN 60068-2-30:2006-06 Pruebas ambientales - Parte 2-30: Pruebas - Prueba Db: Calor húmedo, cíclico (ciclo de 12 h + 12 h) (IEC 60068-2-30:2005); Versión alemana EN 60068-2-30:2005 / Nota: DIN EN 60068-2-30 (2000-02) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2008-11-01.
DIN EN 60068-2-6:2008 Pruebas ambientales - Parte 2-6: Pruebas - Prueba Fc: Vibración (sinusoidal) (IEC 60068-2-6:2007); Versión alemana EN 60068-2-6:2008
DIN VDE V 0884-11:2017 Historia
2017DIN VDE V 0884-11:2017 Dispositivos semiconductores - Parte 11: Acoplador magnético y capacitivo para aislamiento básico y reforzado
0000 DIN VDE V 0884-11:2015
2007DIN V VDE V 0884-10 Berichtigung 1:2007 Dispositivos semiconductores - Acopladores magnéticos y capacitivos para aislamiento seguro; Corrigenda según DIN V VDE V 0884-10 (VDE V 0884-10):2006-12
2006DIN V VDE V 0884-10:2006 Dispositivos semiconductores: acopladores magnéticos y capacitivos para un aislamiento seguro