IEC 60679-1:2017
Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada. Parte 1: Especificaciones genéricas.

Estándar No.

IEC 60679-1:2017

Fecha de publicación

2017

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 60679-1:2017

Reemplazar

IEC 49/1229/FDIS:2017 IEC 60679-1:2007

Alcance

Esta parte de IEC 60679 especifica los requisitos generales para osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos, incluidos los osciladores de resonador dieléctrico (DRO) y los osciladores que utilizan FBAR (en adelante, "oscilador"), de calidad evaluada mediante procedimientos de aprobación de capacidad o de aprobación de calificación. NOTA Se están considerando osciladores de resonador dieléctrico (DRO) y osciladores que utilizan FBAR.

IEC 60679-1:2017 Documento de referencia

• IEC 60027-1:1992 Símbolos de letras para uso en tecnología eléctrica; parte 1: generales
• IEC 60027-2:2005 Símbolos de letras que se utilizarán en tecnología eléctrica - Parte 2: Telecomunicaciones y electrónica
• IEC 60027-3:2002 Símbolos de letras que se utilizarán en tecnología eléctrica. Parte 3: Cantidades logarítmicas y relacionadas, y sus unidades.
• IEC 60027-4:2006 Símbolos de letras que se utilizarán en tecnología eléctrica - Parte 4: Máquinas eléctricas giratorias
• IEC 60027-6:2006 Símbolos de letras que se utilizarán en tecnología eléctrica - Parte 6: Tecnología de control
• IEC 60027-7:2010 Símbolos de letras que se utilizarán en tecnología eléctrica. Parte 7: Generación, transmisión y distribución de energía.
• IEC 60050-561:2014 Vocabulario electrotécnico internacional - Parte 561: Dispositivos piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos y materiales asociados para control, selección y detección de frecuencia.
• IEC 60469:2013 Transiciones, pulsos y formas de onda relacionadas: términos, definiciones y algoritmos
• IEC 60617-DB:2001 Símbolos gráficos para diagramas.
• IEC 60748-2:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 2: Circuitos integrados digitales
• IEC 60749-26:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
• IEC 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
• IEC 61340-5-1:2016 Electrostática - Parte 5-1: Protección de dispositivos electrónicos contra fenómenos electrostáticos - Requisitos generales
• IEC 62884-1:2017 Técnicas de medida de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos - Parte 1: Métodos básicos para la medida
• ISO 80000-1:2009 Cantidades y unidades - Parte 1: General

IEC 60679-1:2017 Historia

• 2017 IEC 60679-1:2017 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada. Parte 1: Especificaciones genéricas.
• 2007 IEC 60679-1:2007 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica
• 2003 IEC 60679-1/AMD2:2003 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica; Enmienda 2
• 2002 IEC 60679-1/AMD1:2002 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica; Enmienda 1
• 1997 IEC 60679-1:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica
• 1985 IEC 60679-1/AMD1:1985 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 1: Información general, condiciones y métodos de prueba.
• 1980 IEC 60679-1:1980 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 1: Información general, condiciones y métodos de prueba.