Esta norma especifica los requisitos técnicos y las reglas de inspección para marcos de conductores de paquetes de contorno pequeño (SOP) (en adelante, marcos de conductores) para circuitos integrados de semiconductores. Esta norma se aplica a marcos de conductores estampados para paquetes de contorno pequeño de circuitos integrados semiconductores.
GB/T 15878-2015 Documento de referencia
GB/T 14112-2015 Circuitos integrados semiconductores. Especificación para marcos conductores estampados de plástico DIP.
GB/T 14113 Terminología de paquetes para circuitos integrados semiconductores.
GB/T 2423.60-2008 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Métodos de prueba. Prueba U: Robustez de terminaciones y dispositivos de montaje integrales.
GB/T 2828.1-2012 Procedimiento de inspección por muestreo de conteo, parte 1: Plan de muestreo de inspección lote por lote recuperado por el límite de calidad de aceptación (AQL)
GB/T 7092 Dimensiones esquemáticas de circuitos integrados de semiconductores.*, 2021-03-09 Actualizar
SJ 20129 Métodos para medir el espesor del revestimiento metálico.
GB/T 15878-2015 Historia
2015GB/T 15878-2015 Circuitos integrados semiconductores. Especificación de marcos conductores para paquetes de contorno pequeño.
1995GB/T 15878-1995 Especificación de marcos principales para paquetes de esquema pequeños