Esta norma especifica los términos y definiciones, instrumentos, procedimientos de prueba y métodos de análisis cuantitativo para la determinación del contenido de fase de materiales de nitruro de silicio mediante difracción policristalina de rayos X. Esta norma es aplicable al análisis cuantitativo de una fase y una fase β en nitruro de silicio. En el caso de que esté contenida una fase cristalina o una fase amorfa distinta de estas dos fases, sólo se analiza el porcentaje de masa relativo de la fase α y la fase β. Esta norma no se aplica cuando el contenido de fase α o fase β es ≤1%.