VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002
Sistemas ópticos de medición 3D - Sistemas ópticos basados en escaneo de áreas

Estándar No.
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002
Fecha de publicación
2002
Organización
Association of German Mechanical Engineers
Estado
 2012-07
Remplazado por
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2012
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2011
Ultima versión
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2012
VDI/VDE 2634 BLATT 2-2012
Reemplazar
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2000
 
Alcance
La directriz se aplica a los sistemas de medición ópticos tridimensionales basados en el escaneo de áreas, cuya función se basa en la triangulación y se aplica a la medición de objetos tridimensionales en un solo paso de medición elemental ("vista única").

VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002 Historia

Sistemas ópticos de medición 3D - Sistemas ópticos basados en escaneo de áreas

Temas especiales sobre estándares y normas

Prueba de calibración del sistema de escaneo óptico. VDI/VDE 2634 Parte 2

estándares y especificaciones

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