- Estándar No.
- SJ/T 2658.1-2015
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2015
- Organización
- Professional Standard - Electron
- Ultima versión
-
SJ/T 2658.1-2015
- Reemplazar
-
SJ 2658.1-1986
- Alcance
- Esta parte especifica los requisitos generales para la medición de parámetros fotoeléctricos de diodos emisores de infrarrojos semiconductores (en lo sucesivo, dispositivos), incluido el rango de error del instrumento de prueba, los requisitos de rendimiento de la fuente de alimentación y las condiciones ambientales de prueba. Esta sección se aplica a los diodos emisores de infrarrojos semiconductores.
SJ/T 2658.1-2015 Historia
- 2015 SJ/T 2658.1-2015 Método de medición para diodos semiconductores emisores de infrarrojos.Parte 1: Generalidades
- 1970 SJ 2658.1-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores. Reglas generales.
SJ/T 2658.1-2015 Método de medición para diodos semiconductores emisores de infrarrojos.Parte 1: Generalidades ha sido cambiado a SJ 2658.1-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores. Reglas generales..