ISO 17859:2015 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de medición de la tensión piezoeléctrica en un campo eléctrico elevado normas y especificaciones

Alcance: Esta norma internacional especifica el método de medición de la tensión piezoeléctrica en un campo eléctrico elevado para dispositivos piezoeléctricos de alta potencia. Esta norma internacional está destinada a ser utilizada para determinar el coeficiente de deformación piezoeléctrica de los materiales midiendo la deformación frente al campo eléctrico: 　——campo eléctrico aplicado: 0 a 2 MV/m; 　——frecuencia del campo eléctrico: 0,1 a 1 Hz.

ISO 17859:2015 Documento de referencia

EN 50324-1:2002 Propiedades piezoeléctricas de materiales y componentes cerámicos Parte 1: Términos y definiciones
EN 50324-2:2002 Propiedades piezoeléctricas de materiales y componentes cerámicos Parte 2: Métodos de medición - Baja potencia
IEC 60122-1:2002 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica
IEC 60483:1976 Guía para mediciones dinámicas de cerámicas piezoeléctricas con alto acoplamiento electromecánico.

2015 ISO 17859:2015 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de medición de la tensión piezoeléctrica en un campo eléctrico elevado