IEC 62047-40:2021
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 40: Métodos de prueba del umbral del interruptor de choque inercial microelectromecánico.
- Estándar No.
- IEC 62047-40:2021
- Fecha de publicación
- 2021
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 62047-40:2021
- Remplazado por
- IEC 47F/384/FDIS:2021
- Alcance
- Esta parte de IEC 62047 especifica las condiciones y métodos de prueba del umbral del interruptor de choque inercial microelectromecánico. Este documento se aplica al interruptor de choque inercial microelectromecánico normalmente abierto.
IEC 62047-40:2021 Historia
- 2021 IEC 62047-40:2021 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 40: Métodos de prueba del umbral del interruptor de choque inercial microelectromecánico.
