BS IEC 62047-40:2021
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Métodos de prueba del umbral del interruptor de choque inercial microelectromecánico.
- Estándar No.
- BS IEC 62047-40:2021
- Fecha de publicación
- 2021
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS IEC 62047-40:2021
BS IEC 62047-40:2021 Historia
- 2021 BS IEC 62047-40:2021 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Métodos de prueba del umbral del interruptor de choque inercial microelectromecánico.
