BS IEC 62899-503-3:2021
Electrónica impresa. Evaluación de calidad. Método de medición de la resistencia de contacto para el transistor de película delgada impreso. Método de longitud de transferencia
- Estándar No.
- BS IEC 62899-503-3:2021
- Fecha de publicación
- 2021
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS IEC 62899-503-3:2021
BS IEC 62899-503-3:2021 Historia
- 2021 BS IEC 62899-503-3:2021 Electrónica impresa. Evaluación de calidad. Método de medición de la resistencia de contacto para el transistor de película delgada impreso. Método de longitud de transferencia
