IEC 62830-1:2017
Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para la recolección y generación de energía - Parte 1: Recolección de energía piezoeléctrica basada en vibraciones
- Estándar No.
- IEC 62830-1:2017
- Fecha de publicación
- 2017
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 62830-1:2017
- Reemplazar
- IEC 47/2341/FDIS:2016
- Alcance
- Esta parte de IEC 62830 define términos, definiciones, símbolos, configuraciones y métodos de prueba que pueden usarse para evaluar y determinar las características de rendimiento de los dispositivos piezoeléctricos de recolección de energía basados en vibraciones para uso práctico. Este documento es aplicable a dispositivos de recolección de energía para consumidores, industrias generales, aplicaciones militares y aeroespaciales sin ninguna limitación en cuanto a tecnología y tamaño del dispositivo.
IEC 62830-1:2017 Documento de referencia
- IEC 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.
- IEC 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
IEC 62830-1:2017 Historia
- 2017 IEC 62830-1:2017 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para la recolección y generación de energía - Parte 1: Recolección de energía piezoeléctrica basada en vibraciones
estándares y especificaciones
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