IEC 60122-1/AMD1:1983 Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia. Parte 1: Valores estándar y condiciones de prueba. ha sido cambiado a IEC 61178-3-1:1993 Unidades de cristal de cuarzo; una especificación en el sistema de evaluación de calidad de componentes electrónicos (IECQ) de la IEC; parte 3: especificación seccional; aprobación de calificación; sección 1: especificación detallada en blanco.
IEC 60122-1/AMD1:1983 Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia. Parte 1: Valores estándar y condiciones de prueba. ha sido cambiado a IEC 61178-3:1993 Unidades de cristal de cuarzo; una especificación en el sistema de evaluación de calidad de componentes electrónicos (IECQ) de la IEC; parte 3: especificación seccional; aprobación de calificación.
IEC 60122-1/AMD1:1983 Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia. Parte 1: Valores estándar y condiciones de prueba. ha sido cambiado a IEC 61178-2-1:1993 Unidades de cristal de cuarzo; una especificación en el sistema de evaluación de calidad de componentes electrónicos (IECQ) de la IEC; parte 2: especificación seccional; aprobación de capacidad; sección 1: especificación detallada en blanco.
IEC 60122-1/AMD1:1983 Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia. Parte 1: Valores estándar y condiciones de prueba. ha sido cambiado a IEC 61178-2:1993 Unidades de cristal de cuarzo; una especificación en el sistema de evaluación de calidad de componentes electrónicos (IECQ) de la IEC; parte 2: especificación seccional; aprobación de capacidad.
IEC 60122-1/AMD1:1983 Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia. Parte 1: Valores estándar y condiciones de prueba. ha sido cambiado a IEC 61178-1:1993 Unidades de cristal de cuarzo; una especificación en el sistema de evaluación de calidad de componentes electrónicos (IECQ) de la IEC; parte 1: especificación genérica.
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