Ondulación de la fuente de alimentación

Ondulación de la fuente de alimentación, Total: 8 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Ondulación de la fuente de alimentación son: Circuitos integrados. Microelectrónica, Compatibilidad electromagnética (CEM), tubos electronicos.

Professional Standard - Electron, Ondulación de la fuente de alimentación

• SJ 20610-1996 Circuitos de microondas. Métodos de medida para interruptores de microondas.
• SJ/T 31165-1994 Requisitos de preparación y métodos de inspección y evaluación de la fuente de energía utilizada para probar las propiedades eléctricas del TWT de energía.

International Electrotechnical Commission (IEC), Ondulación de la fuente de alimentación

• IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001 CSV Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC
• IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001+AMD2:2008 CSV Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC
• IEC 61000-4-17:1999/AMD2:2008 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC
• IEC 61000-4-17:1999/AMD1:2001 Enmienda 1 - Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Ondulación de la fuente de alimentación

• GB/T 17626.17-2005 Compatibilidad electromagnética Técnicas de prueba y medición Ondulación en la prueba de inmunidad del puerto de alimentación de entrada

GSO, Ondulación de la fuente de alimentación

• GSO IEC 61000-4-17:2008 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC

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