Los componentes se deterioran después de 25 años.
Los componentes se deterioran después de 25 años., Total: 49 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Los componentes se deterioran después de 25 años. son: ingeniería de energía solar, (Sin título), Comunicaciones de fibra óptica., Óptica y medidas ópticas., Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Materiales de construcción, Elementos de edificios., Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Componentes electrónicos en general..
Group Standards of the People's Republic of China, Los componentes se deterioran después de 25 años.
- T/SZBX 061-2021 Módulo fotovoltaico de silicio cristalino de baja degradación
- T/GSEA 002-2019 Especificaciones técnicas para la prueba de degradación de energía de módulos fotovoltaicos
- T/CITS 0103-2024 Requisitos técnicos para la inspección de atenuación de potencia de módulos fotovoltaicos.
- T/CSPSTC 25-2019 Método de prueba para módulos fotovoltaicos (PV) basados en silicio amorfo de película delgada Degradación inducida por luz (LID)
- T/CASMES 278-2023 Requisitos técnicos para las pruebas de atenuación de potencia de módulos fotovoltaicos de perovskita.
SCC, Los componentes se deterioran después de 25 años.
- VDI/VDE 2256 BLATT 2-1988 Elementos de precisión; mojadura; Absorción de impacto
- BS PD IEC TS 62804-2:2022 Módulos fotovoltaicos (PV). Métodos de prueba para la detección de degradación inducida por potencial-película delgada
- CEI EN 61580-4:1999 Métodos de medición para guías de ondas. Parte 4: Atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas.
- MIL MIL-A-3933/20-1974 ATENUADORES, FIJOS, GUÍA DE ONDAS (SIN DOCUMENTO S/S)
- UL Subject 879-2014 Estándar para componentes de señales eléctricas (propuesta CSDS, 25/4/2014)
- MIL MIL-STD-912-1990 PRUEBA FÍSICA DE ATENUACIÓN DEL RUIDO DEL OÍDO (SIN DOCUMENTO S/S)
- CEI EN IEC 61726:2023 Conjuntos de cables, cables, conectores y componentes pasivos de microondas - Medición de la atenuación del apantallamiento mediante el método de la cámara de reverberación
Professional Standard - Electron, Los componentes se deterioran después de 25 años.
- SJ/T 11828.1-2022 Prueba de exposición natural del módulo fotovoltaico y evaluación de la tasa de descomposición anual Parte 1: Ambiente atmosférico cálido y húmedo
- SJ/T 11828.3-2023 Prueba de exposición natural del módulo fotovoltaico y evaluación de la tasa de degradación anual Parte 3: Entorno urbano de clima templado
- SJ/T 11828.2-2022 Prueba de exposición natural del módulo fotovoltaico y evaluación de la tasa de atenuación anual Parte 2: Ambiente atmosférico de arena y polvo seco y caliente
- SJ/T 10183-1991 Mediciones de atenuación para la guía de ondas y los componentes coaxiales.
Professional Standard - Post and Telecommunication, Los componentes se deterioran después de 25 años.
- YD/T 894.2-2010 Especificación técnica para atenuador de fibra óptica. Parte 2: atenuador óptico variable.
- YD/T 894.1-2010 Especificación técnica para atenuador de fibra óptica.Parte 1: Atenuador de fibra óptica fijo
- YD/T 894-1997 Condiciones técnicas de los atenuadores ópticos fijos.
International Telecommunication Union (ITU), Los componentes se deterioran después de 25 años.
British Standards Institution (BSI), Los componentes se deterioran después de 25 años.
- BS EN 61580-4:1998 Métodos de medida para guías de ondas. Atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas.
- BS EN 50289-1-14:2004 Cables de comunicación - Especificaciones para métodos de prueba - Métodos de prueba eléctrica - Atenuación de acoplamiento o atenuación de apantallamiento del hardware de conexión
TIA - Telecommunications Industry Association, Los componentes se deterioran después de 25 años.
- TIA-455-120-1991 FOTP120 Modelado de atenuación espectral en fibra óptica (RETIRADO EN SEPTIEMBRE DE 2003)
- TIA-455-24-1991 FOTP 24 Medición de atenuación de picos de agua de fibras monomodo (RETIRADA EN JULIO DE 2003)
German Institute for Standardization, Los componentes se deterioran después de 25 años.
- DIN EN 61580-4:1999 Métodos de medición para guías de ondas. Parte 4: Atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas (IEC 61580-4:1997); Versión alemana EN 61580-4:1998
- DIN EN 61580-4 Berichtigung 1:2012-07 Métodos de medición para guías de ondas. Parte 4: Atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas (IEC 61580-4:1997); Versión alemana EN 61580-4:1998, corrección de errores según DIN EN 61580-4:1999-07; IEC-Cor. :2006 según IEC 61580-4:1997
- DIN EN 61580-4:1999-07 Métodos de medición para guías de ondas. Parte 4: Atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas (IEC 61580-4:1997); Versión alemana EN 61580-4:1998
- DIN EN 60512-25-2:2002-12 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones - Parte 25-2: Prueba 25b: Atenuación (pérdida de inserción) (IEC 60512-25-2:2002); Versión alemana EN 60512-25-2:2002
- DIN EN 61726:2000 Conjuntos de cables, cables, conectores y componentes pasivos de microondas - Medición de la atenuación del apantallamiento por el método de la cámara de reverberación (IEC 61726:1999); Versión alemana EN 61726:2000
- DIN EN 50289-1-14:2004 Cables de comunicación - Especificaciones para métodos de prueba - Parte 1-14: Métodos de prueba eléctrica - Atenuación de acoplamiento o atenuación de apantallamiento del hardware de conexión; Versión alemana EN 50289-1-14:2004
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Los componentes se deterioran después de 25 años.
- KS C IEC 61580-4-2008(2023) Métodos de medición para guías de ondas-Parte 4: Atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas
- KS C IEC 61580-4:2008 Métodos de medición para guías de ondas-Parte 4: Atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas
- KS C IEC 61580-4-2008(2018) Métodos de medición para guías de ondas-Parte 4: Atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas
- KS C IEC 61580-4-2023 Métodos de medición para guías de ondas-Parte 4: Atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas
Danish Standards Foundation, Los componentes se deterioran después de 25 años.
- DANSK DS/EN 61580-4:1998 Métodos de medición de guías de ondas. Parte 4: Atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas.
- DANSK DS/IEC TS 62804-2 ED1:2022 Módulos fotovoltaicos (PV) – Métodos de prueba para la detección de degradación inducida por potencial – Parte 2: Película delgada
GSO, Los componentes se deterioran después de 25 años.
- OS GSO IEC 61580-4:2017 Métodos de medición de guías de ondas. Parte 4: Atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas.
- GSO IEC 61580-4:2017 Métodos de medición de guías de ondas. Parte 4: Atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas.
International Electrotechnical Commission (IEC), Los componentes se deterioran después de 25 años.
- IEC 61580-4:1997 Métodos de medición de guías de ondas. Parte 4: Atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas.
- IEC TR3 61726:1995 Conjuntos de cables, cables, conectores y componentes pasivos de microondas - Medición de la atenuación del apantallamiento mediante el método de la cámara de reverberación
Association Francaise de Normalisation, Los componentes se deterioran después de 25 años.
- NF C93-593-4*NF EN 61580-4:1998 Métodos de medición para guías de ondas. Parte 4: atenuación de guías de ondas y conjuntos de guías de ondas.
- NF C93-586*NF EN 61726:2018 Conjuntos de cables, cables, conectores y componentes pasivos de microondas - Medición de la atenuación del apantallamiento mediante el método de la cámara de reverberación
Spanish Association for Standardization (UNE), Los componentes se deterioran después de 25 años.
- UNE-EN 61580-4:1998 MÉTODOS DE MEDICIÓN PARA GUÍAS DE ONDAS. PARTE 4: ATENUACIÓN DE GUÍAS DE ONDAS Y CONJUNTOS DE GUÍAS DE ONDAS. (Ratificada por AENOR en julio de 1998.)
American Society for Testing and Materials (ASTM), Los componentes se deterioran después de 25 años.
- ASTM E1111/E1111M-14(2022) Método de prueba estándar para medir la atenuación entre zonas de componentes de oficina abierta
- ASTM RR-E33-1002 1986 E1111: método de prueba estándar para medir la atenuación entre zonas de componentes de oficina abiertos
Lithuanian Standards Office , Los componentes se deterioran después de 25 años.
- LST EN 60512-25-2-2003 Conectores para equipos electrónicos. Pruebas y mediciones. Parte 25-2: Prueba 25b: Atenuación (pérdida de inserción) (IEC 60512-25-2:2002)
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Los componentes se deterioran después de 25 años.
- EN 60512-25-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones Parte 25-2: Prueba 25b: Atenuación (pérdida de inserción)
- EN 61726:2015 Conjuntos de cables, cables, conectores y componentes pasivos de microondas - Medición de la atenuación del apantallamiento mediante el método de la cámara de reverberación