Método de oxidación de semitrazas.
Método de oxidación de semitrazas., Total: 200 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Método de oxidación de semitrazas. son: Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Minerales no metalíferos, Circuitos integrados. Microelectrónica, Químicos orgánicos, Productos de la industria química., Química analítica, Combustibles, Productos petrolíferos en general, químicos inorgánicos, Materiales de construcción, Tratamiento superficial y revestimiento., Dispositivos semiconductores, Cerámica, Medidas lineales y angulares., Calidad del agua, válvulas, carbones, Gas natural, Metales no ferrosos, pruebas de metales, Aplicaciones de la tecnología de la información., Minerales metalíferos, Óptica y medidas ópticas., ingeniería de energía nuclear, Residuos.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Método de oxidación de semitrazas.
- ASTM D5770-11(2017) Método de prueba estándar para la microdeterminación semicuantitativa del número de acidez de aceites lubricantes durante las pruebas de oxidación
- ASTM RR-D02-1366 1994 D5770 - Método de prueba estándar para la microdeterminación semicuantitativa del número de acidez de aceites lubricantes durante las pruebas de oxidación
- ASTM D5770-11 Método de prueba estándar para la microdeterminación semicuantitativa del número de acidez de aceites lubricantes durante las pruebas de oxidación
- ASTM D5770-23 Método de prueba estándar para la microdeterminación semicuantitativa del número de acidez de aceites lubricantes durante las pruebas de oxidación (paquete PDF estándar + Redline)
- ASTM UOP291-15 Cloruro total en catalizadores de alúmina y sílice-alúmina mediante digestión por microondas y valoración potenciométrica
- ASTM D3120-08(2019) Método de prueba estándar para trazas de azufre en hidrocarburos de petróleo líquidos ligeros mediante microcoulometría oxidativa
- ASTM D3246-81(1987)e1 Método de prueba estándar para azufre en gas de petróleo mediante microcoulometría oxidativa
- ASTM D3120-08(2014) Método de prueba estándar para trazas de azufre en hidrocarburos de petróleo líquidos ligeros mediante microcoulometría oxidativa
Gosstandart of Russia, Método de oxidación de semitrazas.
- GOST 7619.5-1981 Fluorita. Método para la determinación de sesquióxidos.
- GOST R 54288-2010 Hidrocarburos líquidos ligeros del petróleo. Determinación de trazas de azufre mediante microcoulometría oxidativa.
- GOST R 54288-2010(2019) Hidrocarburos líquidos ligeros del petróleo. Determinación de trazas de azufre mediante microcoulometría oxidativa.
- GOST ISO 16591-2015 Productos derivados del petróleo. Determinación del contenido de azufre. Método de microcoulometría oxidativa.
- GOST 23201.1-1978 Alúmina. Métodos de análisis espectral. Determinación de dióxido de silicio, óxido de hierro, óxido de sodio y óxido de magnesio.
- GOST 23201.2-1978 Alúmina. Método de análisis espectral. Determinación de pentóxido de vanadio, subóxido de manganeso, óxido de cromo, dióxido de titanio y óxido de zinc.
- GOST 23260.4-1978 Mármol. Método para la determinación de dióxido de silicio, óxido de aluminio y óxido férrico.
- GOST 25542.2-1982 Alúmina. Método para la determinación del contenido de dióxido de hierro.
Defense Logistics Agency, Método de oxidación de semitrazas.
- DLA SMD-5962-94532-1994 MICROCIRCUITO, CMOS, MICROPROCESADOR DE 64 BITS
- DLA SMD-5962-77037 REV G-2005 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS COMPARADOR DE MAGNITUD DE 4 BITS SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-94533-1994 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, MICROPROCESADOR DE 32 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-84052 REV D-1990 MICROCIRCUITOS DIGITALES, CMOS, MICROPROCESADOR DE 16 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-77044 REV F-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, NOR GATES, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89982 REV B-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CHMOS, MICROCONTROLADOR DE 16 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-90678 REV A-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, 16 BITS, MICROPROCESADOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-94514 REV B-2004 MICROCIRCUITO LINEAL, CIRCUITO DE SUPERVISIÓN POR MICROPROCESADOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-90544 REV A-2003 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS MICROCONTROLADOR DE ALTO RENDIMIENTO SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-94608-1994 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, MULTIPLICADOR-VERANO EN CASCADA DE 12 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-96665 REV D-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, CMOS, CAMBIADOR DE NIVEL DE TENSIÓN HEXAGONAL PARA OPERACIÓN TTL A CMOS O CMOS A CMOS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-77027 REV C-1982 MICROCIRCUITOS DIGITALES, CMOS, INVERSOR HEXAGONAL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-77053 REV M-2005 MICROCIRCUITO, CMOS, INTERRUPTOR ANALÓGICO CUADRÍCULO, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89726 REV D-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, MICROCONTROLADOR AMPLIADO DE E/S, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-87735 REV B-1998 MICROCIRCUITO,CMOS, MICROPROCESADOR OPTIMIZADO PARA EL PROCESAMIENTO DE SEÑALES DIGITAL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-88612 REV A-1990 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, MICROPROCESADOR DE 16 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-77034 REV X-2006 MICROCIRCUITO, LINEAL, REGULADOR DE TENSIÓN AJUSTABLE, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-88501 REV G-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, MICROPROCESADOR DE 16 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-93105 REV C-1996 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, MICROPROCESADOR DE ALTA INTEGRACIÓN DE 32 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-84069 REV F-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, CONTROLADOR DE BUS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-93007 REV D-1996 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, SILICIO MONOLÍTICO CONVOLVER BIDIMENSIONAL
- DLA SMD-5962-89596 REV D-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, NMOS, MICROCONTROLADOR DE 16 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-88568-1988 MICROCIRCUITOS DIGITALES, NMOS, MONOCOMPONENTE, MICROCOMPUTADORA DE 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-84043 REV E-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS DE ALTA VELOCIDAD, EXCLUSIVO NOR GATE, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-92284-1993 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, MICROPROCESADOR RISC DE 32 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-86032 REV H-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, HCMOS, MICROPROCESADOR DE 32 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-87686 REV D-1999 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, MULTIPLICADOR 16 X 16, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-77023 REV F-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, CONTADOR BINARIO DUAL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-86809 REV C-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, NMOS, MICROCONTROLADOR DE 16 BITS CON 8K BYTES DE MEMORIA EPROM, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89517 REV A-1994 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, MICROPROCESADOR SLICE DE 16 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-87653 REV A-1991 MICROCIRCUITO, MICROPROCESADOR, RELOJ EN TIEMPO REAL COMPATIBLE, SILICIO MONOLÍTICO CMOS
- DLA SMD-5962-78029 REV H-2005 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS CODIFICADOR-DESCODIFICADOR SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-81019 REV B-1984 MICROCIRCUITOS DIGITALES, CMOS, QUAD D LATCH, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-86873 REV B-1993 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS 16 X 16 MULTIPLICADOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-96664 REV C-2000 MICROCIRCUITO, DIGITAL, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, CMOS, BUCLE BLOQUEADO DE FASE DE MICROPODER, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-90916 REV A-1998 MICROCIRCUITOS DIGITALES, CMOS AVANZADOS, COMPARADOR DE MAGNITUD DE 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-87685-1987 MICROCIRCUITOS, CPU MICROPROCESADOR DE 8 BITS, NMOS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-86857 REV A-2003 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS DE ALTA VELOCIDAD, COMPARADOR DE MAGNITUD DE 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-79013 REV F-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, PUERTA NAND TRIPLE DE 3 ENTRADAS CON TAMPÓN, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-86013 REV D-2002 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS DE ALTA VELOCIDAD COMPARADOR DE MAGNITUD DE 4 BITS SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89877 REV C-2004 MICROCIRCUITO, LINEAL, CMOS, DUAL, RS232, TRANSCEPTOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-86818 REV D-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS DE ALTA VELOCIDAD, COMPARADOR DE MAGNITUD DE 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-83013 REV D-1995 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, MICROPROCESADOR DE 8 BITS, CPU, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89481 REV A-2004 MICROCIRCUITO, LINEAL, CMOS, 12 BITS, CONVERTIDOR D/A MULTIPLICADOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-77036 REV D-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, QUAD 2 ENTRADAS Y PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-93228 REV B-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, CONTROLADOR DE BUS DE PRUEBA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-77051 REV F-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, TRIPLE 3 ENTRADAS Y PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-77060 REV E-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, DOBLE 4 ENTRADAS O PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-77024 REV F-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, QUAD 2 ENTRADAS Y PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-06208-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, PROCESADOR DE SEÑAL DIGITAL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-84068 REV E-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, CONTROLADOR GENERADOR DE RELOJ, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89638-1989 MICROCIRCUITO LINEAL, CONTROLADOR DE MODO CORRIENTE CMOS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-93006 REV B-1999 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, PROCESADOR DE SEÑAL DIGITAL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-93183 REV C-2002 MICROCIRCUITO, LINEAL, TRANSCEPTOR DE BUS, DIFERENCIAL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-77059 REV E-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, DOBLE 4 ENTRADAS Y PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-79014 REV B-1987 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, BUFFER INVERSOR HEXAGONAL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89725 REV A-1995 MIRCOCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, ASÍNCRONO, CONTROLADOR SERIE, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-92331-1993 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, TRANSFORMADOR DE COORDENADAS, 16X16 BIT, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-79012 REV A-1986 MICROCIRCUITOS DIGITALES, CMOS, REGISTRO DE CAMBIO ESTÁTICO, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89711 REV B-2006 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS CORRELADOR DE SALIDA DE 64 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-94642-1994 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, PERIFÉRICO MULTIFUNCIONAL MEJORADO, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-90526 REV M-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, PROCESADOR DE SEÑAL DIGITAL, SILICIO MONOLÍTICO
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Método de oxidación de semitrazas.
- GB/T 11141-1989 Olefinas ligeras para uso industrial--Determinación de trazas de azufre--Método microcoulométrico oxidativo
- GB/T 6285-2003 Determinación de trazas de oxígeno en gases. Método electroquímico.
- GB/T 12688.6-1990 Estireno para uso industrial--Determinación de trazas de azufre--Método microcoulométrico oxidativo
- GB/T 8762.5-1988 Óxido de itrio de grado fósforo. Determinación del contenido de trazas de óxido de tierras raras. Método espectroquímico y método espectrográfico directo.
- GB/T 6462-2005 Recubrimientos metálicos y de óxido-Medición del espesor del recubrimiento-Método microscópico
- GB/T 11060.4-2010(俄语版) Parte 4: Determinación del contenido puntual de azufre mediante microcoulometría oxidativa
- GB/T 28124-2011 Determinación de trazas de hidrógeno, oxígeno, metano y monóxido de carbono en gases inertes. Método cromatográfico de gases
- GB/T 3394-1993 Etileno y propileno para uso industrial. Determinación de trazas de monóxido de carbono y dióxido de carbono. Método cromatográfico de gases
- GB/T 8014.3-2005 Anodizado de aluminio y sus aleaciones: método de medición del espesor de recubrimientos de óxido anódico Parte 3: Método de microscopio de haz dividido
- GB/T 3396-2022 Determinación de trazas de oxígeno en etileno y propileno para uso industrial: método electroquímico
- GB/T 3396-2002 Etileno y propileno para uso industrial--Determinación de trazas de oxígeno--Método electroquímico
- GB/T 3394-2009 Uso industrial de etileno y propileno-Determinación de trazas de monóxido de carbono, dióxido de carbono y acetileno-Método cromatográfico de gases
- GB/T 3394-2023 Determinación de trazas de monóxido de carbono, dióxido de carbono y acetileno en etileno y propileno industriales mediante cromatografía de gases.
- GB/T 2590.1-1981 Óxidos de circonio y hafnio. Determinación del contenido de óxido de circonio (hafnio). Método gravimétrico del ácido mandélico.
- GB/T 4372.1-1984 Métodos para el análisis químico del óxido de zinc (proceso directo): el método volumétrico del ferrocianuro de potasio para la determinación del contenido de óxido de zinc.
- GB/T 15917.1-1995 Disprosio y óxido de disprosio. Determinación del contenido de óxido de gadolinio, óxido de terbio, óxido de holmio, óxido de erbio y óxido de itrio. Método espectrográfico de emisión.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Método de oxidación de semitrazas.
- GB/T 6285-2016 Determinación de trazas de oxígeno en gases: método electroquímico
Spanish Association for Standardization (UNE), Método de oxidación de semitrazas.
- UNE 84047:1995 MATERIAS PRIMAS COSMÉTICAS. DETERMINACIÓN DE NITRÓGENO. MÉTODO DE KJEDHAL (SEMI-MICRO).
- UNE-EN ISO 16591:2011 ERRATUM:2011 Productos petrolíferos. Determinación del contenido de azufre. Método de microcoulometría oxidativa (ISO 16591:2010).
- UNE-EN ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y de óxido. Medición del espesor del recubrimiento. Método microscópico (ISO 1463:2021)
- UNE 32013:1995 CARBÓN. DETERMINACIÓN DE NITRÓGENO. MÉTODO SEMIMICRO KJELDAHL.
- UNE-EN ISO 16591:2011 Productos petrolíferos. Determinación del contenido de azufre. Método de microcoulometría oxidativa (ISO 16591:2010).
- UNE-EN 14077:2004 Productos derivados del petróleo - Determinación del contenido de halógenos orgánicos - Método microcoulométrico oxidativo
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Método de oxidación de semitrazas.
- CNS 14476-2000 Método de prueba de azufre en gas de petróleo mediante microcoulometría oxidativa.
- CNS 14116-1998 Método de prueba para detectar trazas de azufre en hidrocarburos de petróleo líquidos ligeros mediante microcoulometría oxidativa
- CNS 4054-1976 Método de prueba para trazas de acetileno y dióxido de carbono en etileno
International Organization for Standardization (ISO), Método de oxidación de semitrazas.
- ISO/TS 11725:2002 Combustibles minerales sólidos - Determinación de nitrógeno - Método de semimicrogasificación
- ISO 16591:2010 Productos petrolíferos - Determinación del contenido de azufre - Método de microcoulometría oxidativa
- ISO 333:1996 Carbón - Determinación de nitrógeno - Método semimicro Kjeldahl
- ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y de óxido. Medición del espesor del recubrimiento. Método microscópico.
- ISO 6381:1981 Etileno y propileno para uso industrial; Determinación de trazas de monóxido de carbono y dióxido de carbono; Método cromatográfico de gases
- ISO 16960:2014 Gas natural - Determinación de compuestos de azufre - Determinación de azufre total por método de microcoulometría oxidativa
Association Francaise de Normalisation, Método de oxidación de semitrazas.
- NF M07-009*NF EN ISO 16591:2012 Derivados del petróleo - Determinación del contenido de azufre - Método de microcoulometría oxidativa.
- NF EN ISO 8968-3:2007 Leche - Determinación del contenido de nitrógeno - Parte 3: Método de mineralización en masa (Método rápido semi-micro de rutina)
- NF A91-110:2004 Recubrimientos metálicos y de óxidos - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico.
- NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y de óxido - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico
- NF EN 14077:2004 Productos derivados del petróleo. Determinación del contenido de halógenos orgánicos. Método de microcoulometría oxidante.
- NF EN ISO 16960:2014 Gas natural - Determinación de compuestos de azufre - Determinación del contenido total de azufre mediante microcoulometría oxidante
- NF X20-514*NF EN ISO 16960:2014 Gas natural - Determinación de compuestos de azufre - Determinación de azufre total por método de microcoulometría oxidativa
- NF EN ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y capas de óxido. Medición del espesor del recubrimiento. Método de sección micrográfica.
U.S. Military Regulations and Norms, Método de oxidación de semitrazas.
- ARMY MIL-M-63530 (1)-1987 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS (LÓGICA)
- ARMY MIL-M-48646 NOTICE 1-1997 MICROCIRCUITO DIGITAL MULTICHIP CMOS SCO/DLA
- ARMY MIL-M-63530-1981 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS (LÓGICA)
- ARMY MIL-M-63530 NOTICE 1-1997 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS (LÓGICA)
- ARMY MIL-M-48646-1986 MICROCIRCUITO DIGITAL MULTICHIP CMOS SCO/DLA
- ARMY MIL-M-63320 A (4)-1990 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS (LOGICA INICIAL)
- ARMY MIL-M-63321 A NOTICE 1-1997 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS (LOGICA FINAL)
- ARMY MIL-M-63320 A-1981 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS (LOGICA INICIAL)
- ARMY MIL-M-63320 A NOTICE 1-1997 MICROCIRCUITO DE ESPECIFICACIÓN MILITAR, DIGITAL, CMOS (LOGICA INICIAL)
- ARMY MIL-M-63321 A-1981 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS (LOGICA FINAL)
- ARMY MIL-M-63321 A (4)-1990 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS (LOGICA FINAL)
- ARMY MIL-M-63324 A VALID NOTICE 1-1988 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, PROPÓSITO ESPECIAL NI PUERTA
- ARMY MIL-M-63324 A NOTICE 2-1997 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, PROPÓSITO ESPECIAL NI PUERTA
- ARMY MIL-M-63324 A-1981 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, PROPÓSITO ESPECIAL NI PUERTA
- ARMY MIL-M-63324 A (1)-1982 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, PROPÓSITO ESPECIAL NI PUERTA
GSO, Método de oxidación de semitrazas.
- GSO ISO 981:2008 Hidróxido de sodio para uso industrial – Determinación del contenido de cloruros – método mercurimétrico.
- OS GSO ISO 16591:2014 Productos petrolíferos - Determinación del contenido de azufre - Método de microcoulometría oxidativa
- BH GSO ISO 16591:2015 Productos petrolíferos - Determinación del contenido de azufre - Método de microcoulometría oxidativa
- GSO ISO 1463:2013 Recubrimientos metálicos y de óxido -- Medición del espesor del recubrimiento -- Método microscópico
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Método de oxidación de semitrazas.
- KS M ISO 16591-2022 Productos derivados del petróleo-Determinación del contenido de azufre-Método de microcoulometría oxidativa
- KS M ISO 16591-2012(2017) Productos derivados del petróleo-Determinación del contenido de azufre-Método de microcoulometría oxidativa
- KS M ISO 16591-2012(2022) Productos derivados del petróleo-Determinación del contenido de azufre-Método de microcoulometría oxidativa
- KS M ISO 16591:2012 Derivados del petróleo-Determinación del contenido de azufre-Método de microcoulometría oxidativa
- KS L 1602-2006(2016) Métodos de prueba para la resistencia a la oxidación de cerámicas finas sin óxido.
- KS M 1962-2002 Etileno y propileno para uso industrial-Determinación de trazas de monóxido de carbono y dióxido de carbono-Método cromatográfico de gases
- KS I ISO 16960-2017 Gas natural. Determinación de compuestos de azufre. Determinación del azufre total mediante el método de microcoulometría oxidativa.
- KS D 8519-2009(2015) Revestimiento metálico y de óxido-Medición del espesor del revestimiento-Método microscópico
- KS D 8519-2015 Revestimiento metálico y de óxido-Medición del espesor del revestimiento-Método microscópico
- KS E ISO 333-2018 Carbón-Determinación de nitrógeno-Método semimicro Kjeldahl
RO-ASRO, Método de oxidación de semitrazas.
Danish Standards Foundation, Método de oxidación de semitrazas.
- DS/EN ISO 16591:2011 Productos petrolíferos - Determinación del contenido de azufre - Método de microcoulometría oxidativa
- DANSK DS/EN ISO 16591:2011 Productos petrolíferos - Determinación del contenido de azufre - Método de microcoulometría oxidativa
- DS/EN ISO 1463:2004 Recubrimientos metálicos y de óxido - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico
- DS/ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y de óxido – Medición del espesor del recubrimiento – Método microscópico
- DS/EN 14077:2004 Productos derivados del petróleo - Determinación del contenido de halógenos orgánicos - Método microcoulométrico oxidativo
- DANSK DS/ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y de óxido – Medición del espesor del recubrimiento – Método microscópico
- DS/EN ISO 1463:1994 Recubrimientos metálicos y de óxido - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico
- DANSK DS/EN 14077:2004 Productos derivados del petróleo - Determinación del contenido de halógenos orgánicos - Método microcoulométrico oxidativo
German Institute for Standardization, Método de oxidación de semitrazas.
- DIN EN ISO 16591:2011-04 Productos derivados del petróleo - Determinación del contenido de azufre - Método de microcoulometría oxidativa (ISO 16591:2010); Versión alemana EN ISO 16591:2010
- DIN EN ISO 1463:2021-08 Recubrimientos metálicos y de óxido - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico (ISO 1463:2021); Versión alemana EN ISO 1463:2021
- DIN EN 14077:2004 Productos derivados del petróleo - Determinación del contenido de halógenos orgánicos - Método microcoulométrico oxidativo; Versión alemana EN 14077:2003
- DIN EN 14077:2004-03 Productos derivados del petróleo - Determinación del contenido de halógenos orgánicos - Método microcoulométrico oxidativo; Versión alemana EN 14077:2003
- DIN 51400-7:1992 Pruebas de aceites minerales y combustibles; determinación del contenido de azufre (azufre total); determinación microcoulométrica, método de oxidación
British Standards Institution (BSI), Método de oxidación de semitrazas.
- BS EN ISO 16591:2010 Productos derivados del petróleo. Determinación del contenido de azufre. Método de microcoulometría oxidativa.
- BS EN ISO 16591:2011 Productos derivados del petróleo. Determinación del contenido de azufre. Método de microcoulometría oxidativa.
- BS EN 14077:2003 Productos derivados del petróleo. Determinación del contenido de halógenos orgánicos. Método microcoulométrico oxidativo.
- BS EN ISO 1463:2004 Recubrimientos metálicos y óxidos. Medición del espesor del recubrimiento. método microscópico
- BS EN ISO 1463:1995 Recubrimientos metálicos y óxidos. Medición del espesor del recubrimiento. método microscópico
- BS EN ISO 16960:2014 Gas natural. Determinación de compuestos de azufre. Determinación de azufre total por método de microcoulometría oxidativa.
Professional Standard - Chemical Industry, Método de oxidación de semitrazas.
- HG/T 2686-1995 Determinación de trazas de hidrógeno, oxígeno, metano y monóxido de carbono en gases inertes. Cromatografía de gases con detector de circonio.
South African Bureau of Standard, Método de oxidación de semitrazas.
- SANS 144:2008 Recubrimientos metálicos y de óxido - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico
- SANS 144:1982 Recubrimientos metálicos y de óxido - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico
- SANS 333:1996 Carbón - Determinación de nitrógeno - Método semimicro Kjeldahl
European Committee for Standardization (CEN), Método de oxidación de semitrazas.
- EN ISO 16591:2010 Productos petrolíferos. Determinación del contenido de azufre. Método de microcoulometría oxidativa (ISO 16591:2010).
Group Standards of the People's Republic of China, Método de oxidación de semitrazas.
- T/CSUS 28-2021 Determinación de la demanda bioquímica de oxígeno (DBO) de la coulometría microbiana de la calidad del agua
- T/QGCML 2993-2024 Determinación de la demanda bioquímica de oxígeno (DBO) de la calidad del agua método en línea de película microbiana in situ
TR-TSE, Método de oxidación de semitrazas.
- TS 362-1966 DETERMINACIÓN DEL NITRÓGENO DEL CARBÓN MEDIANTE EL MÉTODO SEMI ■ M?KRO KJELDAHL
Professional Standard - Agriculture, Método de oxidación de semitrazas.
- NY/T 53-1987 Método para la determinación del nitrógeno total del suelo (método semimicro Kjeldahl)
- GB 7173-1987 Determinación del nitrógeno total en el suelo (método semi-micro Kelvin)
SE-SIS, Método de oxidación de semitrazas.
- SIS SS-ISO 1463:1983 Recubrimientos metálicos y de óxido - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico
YU-JUS, Método de oxidación de semitrazas.
- JUS C.T7.227-1984 Oxidación anódica del aluminio y sus aleaciones. Medición del espesor de recubrimientos de óxido mediante microscopio de sección óptica.
Professional Standard - Non-ferrous Metal, Método de oxidación de semitrazas.
- YS/T 568.1-2008 Métodos de análisis químico para óxido de circonio y óxido de hafnio. Determinación del contenido total de óxido de circonio y óxido de hafnio. Método gravimétrico del ácido mandélico.
- YS/T 568.1-2006 Determinación del contenido de óxido de circonio y óxido de hafnio en óxido de circonio y óxido de hafnio (método gravimétrico del ácido mandélico)
工业和信息化部, Método de oxidación de semitrazas.
- YS/T 1107-2016 Método de análisis químico del sesquióxido de carboxietil germanio.
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Método de oxidación de semitrazas.
- GB/T 36655-2018 Método de prueba para determinar el contenido de dióxido de silicio alfa cristalino de polvo de sílice esférico para envases electrónicos: método XRD
- GB/T 40066-2021 Nanotecnologías—Medición del espesor del óxido de grafeno—Microscopía de fuerza atómica (AFM)
Lithuanian Standards Office , Método de oxidación de semitrazas.
- LST EN ISO 16591:2011 Productos petrolíferos. Determinación del contenido de azufre. Método de microcoulometría oxidativa (ISO 16591:2010).
- LST EN 14077-2004 Productos derivados del petróleo - Determinación del contenido de halógenos orgánicos - Método microcoulométrico oxidativo
Standards Norway, Método de oxidación de semitrazas.
- NS-EN 14077:2003 Productos petrolíferos. Determinación del contenido de halógenos orgánicos. Método microcoulométrico oxidativo.
- NS-EN ISO 16591:2010 Productos petrolíferos. Determinación del contenido de azufre. Método de microcoulometría oxidativa (ISO 16591:2010).
CZ-CSN, Método de oxidación de semitrazas.
- CSN 65 0334-1965 Semimicrodeterminación de carbono e hidrógeno en compuestos orgánicos.
- CSN ISO 1463:1993 Recubrimientos metálicos y óxidos. Medición del espesor del recubrimiento. método microscópico
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Método de oxidación de semitrazas.
- JIS K 0315:2022 Método para medir gases traza reductores mediante equipos de medición de gases traza de tipo semiconductor
- JIS K 0227:1984 Método analítico para trazas de óxidos de nitrógeno en gas diluyente y gas cero.
IN-BIS, Método de oxidación de semitrazas.
- IS 2720 Pt.25-1982 MÉTODOS DE PRUEBA PARA SUELOS PARTE ⅩⅩⅤ DETERMINACIÓN DE LA RELACIÓN DE SESQUIÓXIDO DE SÍLICE (Primera Revisión)
海关总署, Método de oxidación de semitrazas.
- SN/T 5265-2020 Determinación del contenido de organohalogenos en productos petrolíferos mediante el método microcoulométrico oxidativo.
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Método de oxidación de semitrazas.
- JEDEC JEB5-A-1970 Métodos de medición para microcircuitos de activación lógica de semiconductores
Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, Método de oxidación de semitrazas.
- DB43/T 751-2013 Determinación de nitrógeno en grafito mediante el método semimicro Kelvin
Professional Standard - Nuclear Industry, Método de oxidación de semitrazas.
- EJ/T 20141-2016 Determinación de trazas de uranio en polvo de dióxido de plutonio de grado nuclear mediante el método de fluorescencia láser
Professional Standard - Commodity Inspection, Método de oxidación de semitrazas.
- SN/T 2081-2008 Determinación de impurezas en alúmina. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES) con disolución en microondas.
Professional Standard - Machinery, Método de oxidación de semitrazas.
- JB/T 11827-2014 Método de prueba para el rendimiento del CaO utilizado en la desulfuración seca/semiseca