Métodos de prueba de circuitos integrados.

Métodos de prueba de circuitos integrados., Total: 14 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Métodos de prueba de circuitos integrados. son: Dispositivos semiconductores, Circuitos integrados. Microelectrónica.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Métodos de prueba de circuitos integrados.

• KS C 5113-1983 MÉTODOS DE MEDIDA PARA CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES MOS
• KS C 5113-1983(1998) MÉTODOS DE MEDIDA PARA CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES MOS
• KS C 6050-1985 MÉTODOS DE MEDIDA PARA CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES BIPOLARES
• KS C 6050-1985(2000) MÉTODOS DE MEDIDA PARA CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES BIPOLARES

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Métodos de prueba de circuitos integrados.

• JEDEC JESD51-8-1999 Método de prueba térmica de circuito integrado Condiciones ambientales: unión a placa
• JEDEC JESD51-6-1999 Método de prueba térmica de circuito integrado Condiciones ambientales: convección forzada (aire en movimiento)
• JEDEC JESD51-2A-2008 Método de prueba térmica de circuitos integrados Condiciones ambientales: convección natural (aire en calma)

PL-PKN, Métodos de prueba de circuitos integrados.

• PN T01302-03-1991 Dispositivos semiconductores Circuitos integrados digitales Métodos de medición [Traducción de la publicación IEC 748-2 (1985), cap. IV, V]

Professional Standard - Aerospace, Métodos de prueba de circuitos integrados.

• QJ 1528-1988 Método de prueba de base de tiempo de circuito integrado semiconductor
• QJ 257-1977 Método de prueba de circuito digital integrado TTL de semiconductores
• QJ/Z 33-1977 Método de prueba del circuito de integración digital de efecto de campo (P-MOS)

Professional Standard - Electron, Métodos de prueba de circuitos integrados.

• SJ/T 10741-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos CMOS.
• SJ/T 10741-2000 Circuitos integrados semiconductores Principios generales de métodos de medición para circuitos CMOS.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Métodos de prueba de circuitos integrados.

• GB/T 42975-2023 Métodos de prueba de controladores de circuitos integrados de semiconductores.

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