método de orientación del cristal

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en método de orientación del cristal son: pruebas de metales, Materiales semiconductores.

Professional Standard - Aviation, método de orientación del cristal

• HB 6742-1993 Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía Laue con retrosoplado de rayos X

American Society for Testing and Materials (ASTM), método de orientación del cristal

• ASTM E82-91(1996) Método de prueba estándar para determinar la orientación de un cristal metálico
• ASTM E82/E82M-14 Método de prueba estándar para determinar la orientación de un cristal metálico
• ASTM E82-91(2007) Método de prueba estándar para determinar la orientación de un cristal metálico
• ASTM E82-09 Método de prueba estándar para determinar la orientación de un cristal metálico
• ASTM F847-02 Medición de la orientación cristalográfica mediante rayos X en obleas de silicio monocristalino
• ASTM E82/E82M-14(2019) Método de prueba estándar para determinar la orientación de un cristal metálico

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, método de orientación del cristal

• GB/T 1555-2023 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor
• GB/T 1555-1997 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
• GB/T 1555-2009 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.

Otros:   Transistores bipolares Método de medición de la figura de ruido de baja frecuencia., Método para identificar la orientación y no orientación del grano de acero eléctrico. Método de difracción de rayos X para la determinación de la textura., método de estructura cristalina, Método de medición en exteriores de la potencia de salida de módulos y células solares cristalinas., orientación del cristal, métodos cristalográficos, Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía de Laue con retroiluminación de rayos X, Métodos de producción de cristales., método de análisis de cristales, Método de análisis de orientación., método de difracción de cristales de rayos X, como hacer cristales, metodo cristal, Método de prueba inicial de atenuación inducida por la luz para células solares de silicio cristalino, Métodos de caracterización de cristales, método de orientación del cristal, Método de prueba de orientación de rotación del difractómetro de rayos X de material cristalino, método de difracción de rayos X de cristal, Método de prueba secuencial estricto para módulos fotovoltaicos de silicio cristalino, Método de prueba de atenuación inducida por luz asistida por calor de células fotovoltaicas de silicio cristalino.