IEC no

IEC no, Total: 23 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en IEC no son: .

Danish Standards Foundation, IEC no

DS/IEC 192:1992 Lámparas de vapor de sodio de baja presión.
DS/IEC 287:1992 Cálculo de la clasificación de corriente continua de los cables (factor de carga del 100%)
DS/IEC 183:1992 Guía para la selección de cables de alta tensión.
DS/IEC 793-1:1992 Fibra óptica. Parte 1: especificación genérica
DS/IEC 793-2:1992 Fibra óptica. Parte 2: Especificaciones del producto
DS/IEC 529:1992 Grados de protección proporcionados por las envolventes (código IP)
DS/IEC 748-1:1992 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados.Parte 1: General
DS/IEC 747-7:1992 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 7: transistores bipolares
DS/IEC 68-2-32:1992 Pruebas ambientales. Parte 2: Pruebas. Prueba de educación: caída libre
DS/IEC 881-1-3:1992 Métodos de ensayo comunes para materiales aislantes y de revestimiento de cables eléctricos Parte 1: Métodos de aplicación general. Sección tercera: Métodos para determinar la densidad. Pruebas de absorción de agua. prueba de contracción
DS/IEC 811-1-2:1992 Métodos de prueba comunes para materiales aislantes y de revestimiento de cables eléctricos. Parte 1: Métodos de aplicación general. Sección dos: Métodos de envejecimiento térmico.
DS/IEC 896-1:1992 Baterías estacionarias de plomo-ácido. Requisitos generales y métodos de prueba. Parte 1: tipos ventilados
DS/IEC 747-8:1992 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 8: Transistores de efecto de campo
DS/IEC 747-4:1992 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 4: Diodos y transistores de microondas.
DS/IEC 68-2-1:1991 Pruebas ambientales. Parte 2: Pruebas. Prueba A: Frío
DS/IEC CISPR 23:1989 Comisión Electrotécnica Internacional Publicación IEC No. CISPR 23 Primera edición 1987 Determinación de límites para equipos industriales, científicos y médicos
DS/IEC 122-3:1992 Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de cables
DS/IEC 811-1-1:1992 Métodos de prueba comunes para materiales aislantes y de revestimiento de cables eléctricos. Parte 1: Métodos de aplicación general. Sección Primera: Medición de espesores y dimensiones totales. Ensayos para determinar las propiedades mecánicas.
DS/IEC 747-7:1990 Comisión Electrotécnica Internacional Publicación IEC No. 747-7:1988 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos -Parte 7: Transistores bipolares
DS/IEC 747-6-2:1992 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 6: Tiristores. Sección dos. Especificación detallada en blanco para tiristores triodos bidireccionales (triacs), ambientales o de caja, hasta 100 A
DS/IEC 68-2-21:1992 Procedimientos básicos de pruebas ambientales. Parte 2: Prueba. Prueba U: Robustez de terminaciones y dispositivos de montaje integrales
DS/IEC 96-4-1:1992 Cables de radiofrecuencia. Parte 4: Especificación para cables superpantallados. Sección 1: Requisitos generales y métodos de prueba.
DS/IEC 839-5-2:1992 Sistemas de alarma. Parte 5: Requisitos para sistemas de transmisión de alarmas. Sección 2: Requisitos generales para el equipo.