ASTM F980-16 Guía estándar para la medición del recocido rápido de daños por desplazamiento inducido por neutrones en dispositivos semiconductores de silicio normas y especificaciones

Alcance: 1.1 Esta guía define los requisitos y procedimientos para probar dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados de silicio para detectar efectos de recocido rápido por daños por desplazamiento resultantes de la radiación de neutrones. Esta prueba producirá degradación de las propiedades eléctricas de los dispositivos irradiados y debe considerarse una prueba destructiva. El recocido rápido del daño por desplazamiento generalmente se asocia con tecnologías bipolares. 1.1.1 También se pueden utilizar haces de iones pesados para caracterizar el recocido y el daño por desplazamiento (1)2, pero los haces de iones tienen complicaciones significativas en la interpretación del comportamiento resultante del dispositivo debido a la dosis ionizante asociada. El uso de haces de iones pulsados como fuente de daño por desplazamiento no está dentro del alcance de esta norma. 1.2 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.3 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma consultar y establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM F980-16 Documento de referencia

ASTM E1854 Práctica estándar para garantizar la coherencia de las pruebas en daños por desplazamiento de neutrones de piezas electrónicas
ASTM E1855 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
ASTM E1894 Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
ASTM E264 Método de prueba estándar para medir velocidades de reacción de neutrones rápidos mediante radioactivación de níquel
ASTM E265 Método de prueba estándar para medir velocidades de reacción y fluencias de neutrones rápidos mediante radioactivación de azufre-32
ASTM E666 Práctica estándar para calcular la dosis absorbida de radiación gamma o X
ASTM E720 Guía estándar para la selección y el uso de láminas de activación de neutrones para determinar los espectros de neutrones empleados en pruebas de dureza por radiación de productos electrónicos
ASTM E721 Guía estándar para determinar espectros de energía de neutrones a partir de sensores de neutrones para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
ASTM E722 Práctica estándar para caracterizar espectros de fluencia de energía de neutrones en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos

2016 ASTM F980-16 Guía estándar para la medición del recocido rápido de daños por desplazamiento inducido por neutrones en dispositivos semiconductores de silicio
2010 ASTM F980-10e1 Guía estándar para la medición del recocido rápido de daños por desplazamiento inducido por neutrones en dispositivos semiconductores de silicio
2010 ASTM F980-10 Guía estándar para la medición del recocido rápido de daños por desplazamiento inducido por neutrones en dispositivos semiconductores de silicio
1992 ASTM F980-92 Guía para la medición del recocido rápido de daños por desplazamiento inducido por neutrones en dispositivos semiconductores de silicio