SAE AS6171/2-2016 Técnicas para la detección de piezas de AEE sospechosas o falsificadas mediante inspección visual externa@observación y repavimentación@y métodos de prueba de análisis de textura superficial
Este documento describe los requisitos de los siguientes métodos de prueba para la detección de falsificaciones de componentes electrónicos: a. Método A: Inspección visual externa general (EVI) @ Selección de muestras @ y manipulación b. Método B: EVI detallado c. Método C: Pruebas para remarcar y repavimentar d. Método D: Análisis de la textura de la superficie mediante SEM NOTA: El alcance de este documento se centró en componentes electrónicos con plomo @ microcircuitos @ módulos multichip (MCM) @ e híbridos. Otros componentes electrónicos pueden requerir evaluaciones no especificadas en este procedimiento. Cuando corresponda, este documento se puede utilizar como guía, pero sería necesario desarrollar y documentar inspecciones o criterios adicionales para evaluar exhaustivamente estos tipos de piezas adicionales. Declaración de propósito Esta norma establece requisitos para el proceso de inspección, la documentación de los resultados, la calificación del personal y el equipo de inspección que se utilizará. También describe técnicas para detectar piezas sospechosas de falsificación por parte de un inspector capacitado.
SAE AS6171/2-2016 Historia
2017SAE AS6171/2A-2017 Técnicas para la detección de piezas de AEE sospechosas o falsificadas mediante inspección visual externa@observación y repavimentación@y métodos de prueba de análisis de textura superficial
2016SAE AS6171/2-2016 Técnicas para la detección de piezas de AEE sospechosas o falsificadas mediante inspección visual externa@observación y repavimentación@y métodos de prueba de análisis de textura superficial