SAE AS6171/2A-2017 Técnicas para la detección de piezas de AEE sospechosas o falsificadas mediante inspección visual externa@observación y repavimentación@y métodos de prueba de análisis de textura superficial
Este documento describe los requisitos de los siguientes métodos de prueba para la detección de falsificaciones de componentes electrónicos Método A: EVI@ general, selección de muestras@ y manipulación Método B: EVI@ detallado, incluida la medición del peso de la pieza Método C: Prueba para marcar Método D: Prueba para método de repavimentación E: Medición de las dimensiones de las piezas Método F: Análisis de la textura de la superficie mediante SEM El alcance de este documento se centra en componentes electrónicos con terminales@ microcircuitos@ módulos multichip (MCM)@ e híbridos. Otros componentes del EEE pueden requerir evaluaciones no especificadas en este procedimiento. Cuando corresponda, este documento se puede utilizar como guía. Sería necesario desarrollar y documentar inspecciones o criterios adicionales para evaluar minuciosamente estos tipos de piezas adicionales. Si se invoca AS6171/2 en el contrato @ el documento base @ AS6171 Requisitos generales también se aplicarán Propósito Esta norma establece requisitos para el proceso de inspección @ la documentación de los resultados @ la calificación del personal @ y el equipo de inspección que se utilizará. También describe técnicas para detectar piezas sospechosas de falsificación por parte de un inspector capacitado.
SAE AS6171/2A-2017 Historia
2017SAE AS6171/2A-2017 Técnicas para la detección de piezas de AEE sospechosas o falsificadas mediante inspección visual externa@observación y repavimentación@y métodos de prueba de análisis de textura superficial