DIN EN IEC 60749-10:2023
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y subconjunto (IEC 60749-10:2022); Versión alemana EN IEC 60749-10:2022

Estándar No.

DIN EN IEC 60749-10:2023

Fecha de publicación

2023

Organización

SCC

Estado

ser reemplazado

Remplazado por

DIN EN IEC 60749-10:2023-06

Ultima versión

DIN EN IEC 60749-10:2023-12

DIN EN IEC 60749-10:2023 Historia

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