2015SJ/T 2354-2015 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
1983SJ 2354.11-1983 Método de medición del ancho de la zona ciega del PIN y de la matriz de fotodiodos de avalancha
SJ 2354.11-1983 Método de medición del ancho de la zona ciega del PIN y de la matriz de fotodiodos de avalancha ha sido cambiado a SJ/T 2354-2015 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD.