SJ 2354.14-1983
Método de medición del factor de exceso de ruido de PIN y fotodiodos de avalancha. (Versión en inglés)

Estándar No.
SJ 2354.14-1983
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
1983
Organización
Professional Standard - Electron
Estado
 2015-10
Remplazado por
SJ/T 2354-2015
Ultima versión
SJ/T 2354-2015
 

SJ 2354.14-1983 Historia

  • 2015 SJ/T 2354-2015 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
  • 1983 SJ 2354.14-1983 Método de medición del factor de exceso de ruido de PIN y fotodiodos de avalancha.

SJ 2354.14-1983 Método de medición del factor de exceso de ruido de PIN y fotodiodos de avalancha. ha sido cambiado a SJ/T 2354-2015 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD.

Método de medición del factor de exceso de ruido de PIN y fotodiodos de avalancha.

Temas especiales sobre estándares y normas

Diodo de avalancha UV Principales parámetros de los fotodiodos. Métodos de prueba de ruido. Pruebas optoelectrónicas fotodiodo Parámetros ópticos Parámetros ópticos Parámetros del diodo de avalancha Parámetros del diodo de avalancha fotodiodo pin Parámetros del diodo de avalancha Fotodiodo de avalancha

estándares y especificaciones

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