BS DD IEC/PAS 62483:2006
Método de prueba para medir el crecimiento de bigotes en acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño.

Estándar No.

BS DD IEC/PAS 62483:2006

Fecha de publicación

2007

Organización

SCC

Estado

ser reemplazado 2013-10

Remplazado por

BS IEC 62483:2013

Ultima versión

BS IEC 62483:2013

BS DD IEC/PAS 62483:2006 Historia

• 2013 BS IEC 62483:2013 Requisitos de aceptación ambiental para la susceptibilidad a los bigotes de estaño de los acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño en dispositivos semiconductores
• 2007 BS DD IEC/PAS 62483:2006 Método de prueba para medir el crecimiento de bigotes en acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño.