BS IEC 62483:2013
Requisitos de aceptación ambiental para la susceptibilidad a los bigotes de estaño de los acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño en dispositivos semiconductores

Estándar No.

BS IEC 62483:2013

Fecha de publicación

2013

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS IEC 62483:2013

Reemplazar

BS DD IEC/PAS 62483:2006

Alcance

Esta Norma Internacional describe el método de ensayo de aceptación ambiental para acabados superficiales a base de estaño y las prácticas de mitigación de filamentos de estaño aplicadas a dispositivos semiconductores. Este método puede no ser adecuado para aplicaciones con requisitos especiales (p. ej., militares, aeroespaciales, etc.). Se pueden especificar requisitos adicionales en la documentación de adquisición correspondiente. Esta Norma Internacional no se aplica a dispositivos semiconductores con solo terminal inferior, donde toda la superficie del acabado se humedece durante el ensamblaje (p. ej., componentes de matriz de rejilla de bolas y sin plomo de cuatro caras planas, terminaciones de protuberancias de chip invertido). El cumplimiento de esta norma incluye el cumplimiento de los requisitos de informe descritos en la Sección 6.

BS IEC 62483:2013 Historia

• 2013 BS IEC 62483:2013 Requisitos de aceptación ambiental para la susceptibilidad a los bigotes de estaño de los acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño en dispositivos semiconductores
• 2007 BS DD IEC/PAS 62483:2006 Método de prueba para medir el crecimiento de bigotes en acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño.

BS IEC 62483:2013 Requisitos de aceptación ambiental para la susceptibilidad a los bigotes de estaño de los acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño en dispositivos semiconductores ha sido cambiado a BS DD IEC/PAS 62483:2006 Método de prueba para medir el crecimiento de bigotes en acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño..

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