IEC 62483:2013
Requisitos de aceptación ambiental para la susceptibilidad a los bigotes de estaño de los acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño en dispositivos semiconductores

Estándar No.
IEC 62483:2013
Fecha de publicación
2013
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión
IEC 62483:2013
Reemplazar
IEC 47/2171/FDIS:2013 IEC/PAS 62483:2006
Alcance
Esta norma internacional describe la metodología aplicable para las pruebas de aceptación ambiental de acabados superficiales a base de estaño y las prácticas de mitigación para los bigotes de estaño en dispositivos semiconductores. Esta metodología puede no ser suficiente para aplicaciones con requisitos especiales@ (es decir, militares@, aeroespaciales@, etc.). Se pueden especificar requisitos adicionales en la documentación de requisitos (adquisición) correspondiente. Esta norma internacional no se aplica a dispositivos semiconductores con terminaciones solo en la parte inferior donde toda la superficie chapada se moja durante el ensamblaje (por ejemplo: componentes de matriz de rejilla de bolas y sin conductores cuádruples planos @ terminaciones de chip invertido). La adhesión a esta norma incluye el cumplimiento de los requisitos de presentación de informes descritos en la Cláusula 6.

IEC 62483:2013 Historia

  • 2013 IEC 62483:2013 Requisitos de aceptación ambiental para la susceptibilidad a los bigotes de estaño de los acabados superficiales de estaño y aleaciones de estaño en dispositivos semiconductores



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