JIS C 60068-2-82:2009
Pruebas ambientales - Parte 2-82: Pruebas - Prueba XW1: Métodos de prueba de bigotes para componentes electrónicos y eléctricos

Estándar No.
JIS C 60068-2-82:2009
Fecha de publicación
2009
Organización
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Estado
Remplazado por
JIS C 60068-2-82:2021
Ultima versión
JIS C 60068-2-82:2021
Alcance
Esta norma especifica las pruebas de bigotes para componentes eléctricos o electrónicos que representan la etapa terminada, con acabado de estaño o aleación de estaño.

JIS C 60068-2-82:2009 Documento de referencia

  • JIS C 0025:1988 Procedimientos básicos de pruebas ambientales Parte 2: Pruebas Prueba N: Cambio de temperatura
  • JIS C 60068-1:1993 Pruebas ambientales Parte 1: Generalidades y orientación
  • JIS C 60068-2-20:1996 Procedimientos básicos de ensayos ambientales. Parte 2: Ensayos. Prueba T: Soldadura
  • JIS C 60068-2-58:2006 Pruebas ambientales - Parte 2: Pruebas - Prueba Td: Métodos de prueba para soldabilidad, resistencia a la disolución de la metalización y al calor de soldadura de dispositivos de montaje superficial (SMD)
  • JIS C 60068-2-78:2004 Pruebas ambientales - Parte 2-78: Pruebas - Cabina de prueba: Calor húmedo, estado estable

JIS C 60068-2-82:2009 Historia

  • 2021 JIS C 60068-2-82:2021 Pruebas ambientales - Parte 2-82: Pruebas - Prueba Xw1: Métodos de prueba de bigotes para componentes y piezas utilizadas en conjuntos electrónicos
  • 2009 JIS C 60068-2-82:2009 Pruebas ambientales - Parte 2-82: Pruebas - Prueba XW1: Métodos de prueba de bigotes para componentes electrónicos y eléctricos



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