IEC TS 62607-8-4:2024
Nanofabricación – Características clave de control – Parte 8-4: Dispositivos de interfaz de óxido de metal – Energía de activación de estados de trampa electrónica: Espectroscopia de ruido de baja frecuencia

Estándar No.

IEC TS 62607-8-4:2024

Fecha de publicación

2024

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC TS 62607-8-4:2024

Alcance

Esta parte de IEC 62607 especifica un protocolo de medición para la determinación de energías de activación de estados de trampa electrónica en dispositivos de interfaz metal-óxido mediante espectroscopia de ruido de baja frecuencia. La temperatura máxima del espectro de ruido se obtiene en un rango de temperatura específico y luego se calcula la energía de activación en función de la dependencia de la frecuencia de la temperatura máxima para analizar los niveles de energía asociados con los estados de la trampa electrónica. Suponiendo que el tiempo de atrapamiento en la trampa de electrones se describe mediante una función de Arrhenius, la energía de activación se determina a partir de la dependencia de la temperatura del tiempo de atrapamiento.

IEC TS 62607-8-4:2024 Documento de referencia

• ISO/TS 80004-1 Nanotecnologías - Vocabulario - Parte 1: Términos básicos

IEC TS 62607-8-4:2024 Historia

• 2024 IEC TS 62607-8-4:2024 Nanofabricación – Características clave de control – Parte 8-4: Dispositivos de interfaz de óxido de metal – Energía de activación de estados de trampa electrónica: Espectroscopia de ruido de baja frecuencia

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