BS PD IEC TS 62607-8-4:2024 Nanofabricación. Características clave de control: dispositivos interfaciales de óxido metálico. Energía de activación de estados de trampa electrónica: espectroscopia de ruido de baja frecuencia
Esta parte de la norma IEC 62607 especifica un protocolo de medición para determinar la característica de control clave • energía de activación de estados de trampa electrónica para dispositivos interfaciales de óxido metálico mediante • espectroscopia de ruido de baja frecuencia Las temperaturas pico de los espectros de ruido se obtienen dentro de un rango de temperatura designado. Luego, las energías de activación se calculan en función de la dependencia de la frecuencia de las temperaturas pico para analizar los niveles de energía asociados con los estados de trampa electrónica. La energía de activación se determina por la dependencia de la temperatura del tiempo de captura en trampas de electrones bajo el supuesto de que se describe mediante una función de Arrhenius. – En dispositivos interfaciales de óxido metálico, la conductancia eléctrica se observa a través de una nanocapa de óxido intercalada entre electrodos metálicos. – El tamaño de la ruta conductora en dispositivos interfaciales de óxido metálico depende del valor de la corriente y generalmente tiene un diámetro a escala nanométrica, tomando la forma de un cable filamentoso. Este método de evaluación es útil para analizar los estados de trampa electrónica en nanocables y otros dispositivos miniaturizados que tienen nanocapas.
BS PD IEC TS 62607-8-4:2024 Historia
2024BS PD IEC TS 62607-8-4:2024 Nanofabricación. Características clave de control: dispositivos interfaciales de óxido metálico. Energía de activación de estados de trampa electrónica: espectroscopia de ruido de baja frecuencia