DIN EN 62047-2:2007-02
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 2: Método de ensayo de tracción de materiales de película delgada (IEC 62047-2:2006); Versión alemana EN 62047-2:2006
- Estándar No.
- DIN EN 62047-2:2007-02
- Fecha de publicación
- 2007
- Organización
- German Institute for Standardization
- Ultima versión
- DIN EN 62047-2:2007-02
DIN EN 62047-2:2007-02 Historia
- 2007 DIN EN 62047-2:2007-02 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 2: Método de ensayo de tracción de materiales de película delgada (IEC 62047-2:2006); Versión alemana EN 62047-2:2006
- 2007 DIN EN 62047-2:2007 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 2: Método de ensayo de tracción de materiales de película delgada (IEC 62047-2:2006); Versión alemana EN 62047-2:2006
- 0000 DIN IEC 62047-2:2004
