Este documento pertenece a las técnicas de prueba de pulsos de línea de transmisión muy rápida (VF-TLP) de componentes semiconductores. Establece pautas y prácticas estándar utilizadas actualmente por ingenieros de desarrollo, investigación y confiabilidad tanto en universidades como en la industria para las pruebas VF-TLP. Este documento explica una metodología para probar y reportar información asociada con las pruebas VF-TLP.
ESD SP5.5.2-2007 Historia
2024ESD SP5.5.2-2007 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática: pulso de línea de transmisión muy rápida (VF-TLP): nivel de componente