UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel.

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2011

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AENOR

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UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011 Historia

• 2011 UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel.
• 2003 UNE-EN 60749-19:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel.