UNE-EN 60749-19:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel.
Inicio
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Estándar No.
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Fecha de publicación
2003
Organización
AENOR
Estado
2011-01
Remplazado por
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Ultima versión
UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011
UNE-EN 60749-19:2003 Historia
2011
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Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel.
2003
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Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel.
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