VDI/VDE 5575 BLATT 4-2018
Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X y sistemas de espejos de rayos X - espejos de reflexión total y multicapa
- Estándar No.
- VDI/VDE 5575 BLATT 4-2018
- Fecha de publicación
- 2018
- Organización
- VDI - Verein Deutscher Ingenieure
- Ultima versión
- VDI/VDE 5575 BLATT 4-2018
- Alcance
- Esta norma está dirigida a los usuarios@ desarrolladores y productores de espejos de rayos X. Los campos de aplicación típicos son equipos de laboratorio que utilizan rayos X@ por ejemplo@ para difracción@ espectroscopia@ dispersión@ tomografía@ y microscopía así como instrumentación para radiación sincrotrón en anillos de almacenamiento de electrones y láseres de electrones libres. Otros campos de aplicación son la litografía EUV y la astrofísica de rayos X.
VDI/VDE 5575 BLATT 4-2018 Historia
- 2018 VDI/VDE 5575 BLATT 4-2018 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X y sistemas de espejos de rayos X - espejos de reflexión total y multicapa
- 2017 VDI/VDE 5575 BLATT 4-2017 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X y sistemas de espejos de rayos X - espejos de reflexión total y multicapa
- 2011 VDI/VDE 5575 Blatt 4-2011 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X - Espejos de reflexión total y espejos multicapa
- 2009 VDI/VDE 5575 Blatt 4-2009 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X - Espejos de reflexión total y espejos multicapa
