Esta guía trata de los sistemas ópticos reflectantes de rayos X, que utilizan la reflexión total y la reflexión de Bragg en las interfaces internas de una estructura multicapa para influir en la composición espectral y la característica direccional. Se describen los principios físicos y los parámetros determinantes de estos espejos de rayos X. Se explica el papel y la influencia del sustrato y los recubrimientos. Se analizan los espejos de reflexión total y los espejos multicapa para diversas aplicaciones. Se presentan brevemente los sistemas ópticos de rayos X más importantes que utilizan espejos de rayos X (óptica Kirkpatrick-Baez, Wolter, Schwarzschild, Montel y EUVL).
VDI/VDE 5575 Blatt 4-2011 Documento de referencia
DIN EN ISO 11145:2008 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Vocabulario y símbolos (ISO 11145:2006); Versión en inglés de DIN EN ISO 11145:2008-11
DIN EN ISO 13694:2000 Óptica e instrumentos ópticos - Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para la distribución de densidad de potencia (energía) del rayo láser (ISO 13694:2000); Versión alemana EN ISO 13694:2000
VDI 1000-2010 Trabajo de directrices de VDI: principios y procedimientos
VDI/VDE 5575 Blatt 2 Sistemas ópticos de rayos X - Métodos de medición - Configuración y métodos de medición para la evaluación de sistemas ópticos de rayos X*, 2015-06-01 Actualizar
2018VDI/VDE 5575 BLATT 4-2018 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X y sistemas de espejos de rayos X - espejos de reflexión total y multicapa
2017VDI/VDE 5575 BLATT 4-2017 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X y sistemas de espejos de rayos X - espejos de reflexión total y multicapa
2011VDI/VDE 5575 Blatt 4-2011 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X - Espejos de reflexión total y espejos multicapa
2009VDI/VDE 5575 Blatt 4-2009 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X - Espejos de reflexión total y espejos multicapa