VDI/VDE 5575 Blatt 2-2015
Sistemas ópticos de rayos X - Métodos de medición - Configuración y métodos de medición para la evaluación de sistemas ópticos de rayos X

Estándar No.

VDI/VDE 5575 Blatt 2-2015

Fecha de publicación

2015

Organización

Association of German Mechanical Engineers

Ultima versión

VDI/VDE 5575 Blatt 2-2015

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VDI/VDE 5575 Blatt 2-2013

Alcance

La norma describe la configuración de medición y los métodos para evaluar los sistemas ópticos de rayos X. Se describen métodos para caracterizar las propiedades geométricas de los rayos X, así como enfoques para su análisis espectral. Se definen sistemas de coordenadas para una descripción no ambigua de la configuración de medición. Se especifican sistemas de posicionamiento y detección adecuados para las diferentes tareas de medición. Se ofrece una descripción general de las fuentes de rayos X comunes. Se describen las propiedades típicas de las diferentes fuentes de rayos X relevantes para su medición.

VDI/VDE 5575 Blatt 2-2015 Documento de referencia

• DIN 5030-1:1985 Medición espectral de radiación; terminología, cantidades, valores característicos
• DIN 5030-3:1984 Medición espectral de radiación; aislamiento espectral; definiciones y características
• DIN EN 12543-1:1999 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 1: Método de escaneo; Versión alemana EN 12543-1:1999
• DIN EN 12543-2:2008 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 2: Método radiográfico con cámara estenopeica; Versión en inglés de DIN EN 12543-2:2008-10
• DIN EN 12543-5:1999 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 5: Medición del tamaño efectivo del punto focal de tubos de rayos X de mini y micro foco; Versión alemana EN 12543-5:1999
• DIN EN ISO 11146-1:2005 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para anchos de rayos láser, ángulos de divergencia y relaciones de propagación del haz. Parte 1: Haces estigmáticos y astigmáticos simples (ISO 11146-1:2005); Versión alemana EN ISO 11146-1:2005
• DIN EN ISO 15367-2:2005 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para determinar la forma del frente de onda de un rayo láser. Parte 2: Sensores Shack-Hartmann (ISO 15367-2:2005); Versión alemana EN ISO 15367-2:2005
• VDI 1000-2010 Trabajo de directrices de VDI: principios y procedimientos
• VDI/VDE 5575 Blatt 1-2009 Sistemas ópticos de rayos X: términos y definiciones
• VDI/VDE 5575 Blatt 4-2011 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X - Espejos de reflexión total y espejos multicapa
• VDI/VDE 5575 Blatt 8-2013 Sistemas ópticos de rayos X - Cristales monocromadores

VDI/VDE 5575 Blatt 2-2015 Historia

• 2015 VDI/VDE 5575 Blatt 2-2015 Sistemas ópticos de rayos X - Métodos de medición - Configuración y métodos de medición para la evaluación de sistemas ópticos de rayos X
• 2013 VDI/VDE 5575 Blatt 2-2013 Roentgenoptische Systeme - Messverfahren - Messaufbau und Methoden zur Bewertung roentgenoptischer Systeme