UNE-EN 60749-27:2006
Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 27: Ensayos de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM) (IEC 60749-27:2006) (Ratificada por AENOR en noviembre de 2006.)