UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 27: Ensayos de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM) (Ratificada por AENOR en enero de 2013.)
2013UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 27: Ensayos de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM) (Ratificada por AENOR en enero de 2013.)
2006UNE-EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 27: Ensayos de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM) (IEC 60749-27:2006) (Ratificada por AENOR en noviembre de 2006.)