PD IEC/TS 62916:2017
Módulos fotovoltaicos. Prueba de susceptibilidad a descargas electrostáticas de diodos de derivación

Alcance: Este documento describe una prueba de inmunidad a descargas electrostáticas (ESD) de diodos de derivación de componentes discretos y un método de análisis de datos. El método somete al diodo de derivación a una prueba de estrés ESD progresiva y analiza y extrapola los fallos resultantes mediante una función de distribución Weibull de dos parámetros. El objetivo de este documento es establecer un método de prueba común y repetible para determinar la resistencia a sobretensiones del diodo, consistente con eventos ESD durante la fabricación, el embalaje, el envío o la instalación de módulos fotovoltaicos. Este documento no aborda las causas de las descargas electrostáticas ni establece criterios de aprobación o rechazo para dispositivos de diodos de derivación. Es responsabilidad del usuario evaluar el nivel de exposición a ESD en su situación específica. Los datos generados por este procedimiento pueden respaldar la calificación de nuevos tipos de diseño, el control de calidad del material entrante o identificar la necesidad de controles ESD adicionales en el proceso de fabricación. Por último, este documento no está diseñado para su uso en eventos de sobretensiones de gran magnitud, como la exposición directa o indirecta a rayos, la conmutación de bancos de condensadores de la red eléctrica, etc.

PD IEC/TS 62916:2017 Documento de referencia

IEC 61000-4-2:2008 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-2: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a descargas electrostáticas

2017 PD IEC/TS 62916:2017 Módulos fotovoltaicos. Prueba de susceptibilidad a descargas electrostáticas de diodos de derivación