DIN EN 60749-44 E:2014-08 Componentes semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 44: Métodos de ensayo para la irradiación de neutrones por efecto de evento único de componentes semiconductores.
2017DIN EN 60749-44:2017-04 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (IEC 60749-44:2016); Versión alemana EN 60749-44:2016
2017DIN EN 60749-44:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (IEC 60749-44:2016); Versión alemana EN 60749-44:2016
1970DIN EN 60749-44 E:2014-08 Componentes semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 44: Métodos de ensayo para la irradiación de neutrones por efecto de evento único de componentes semiconductores.