DIN EN 60749-44:2017
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (IEC 60749-44:2016); Versión alemana EN 60749-44:2016
- Estándar No.
- DIN EN 60749-44:2017
- Fecha de publicación
- 2017
- Organización
- German Institute for Standardization
- Estado
- Remplazado por
- DIN EN 60749-44:2017-04
- Ultima versión
- DIN EN 60749-44:2017-04
- Reemplazar
- DIN EN 60749-44:2014
DIN EN 60749-44:2017 Historia
- 2017 DIN EN 60749-44:2017-04 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (IEC 60749-44:2016); Versión alemana EN 60749-44:2016
- 2017 DIN EN 60749-44:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (IEC 60749-44:2016); Versión alemana EN 60749-44:2016
- 1970 DIN EN 60749-44 E:2014-08
- 0000 DIN EN 60749-44:2014
