NF EN IEC 60749-12:2018
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: vibraciones, frecuencias variables.

Estándar No.
NF EN IEC 60749-12:2018
Fecha de publicación
2018
Organización
Association Francaise de Normalisation
Ultima versión
NF EN IEC 60749-12:2018
 
Introducción
Este documento proporciona métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores. En particular, la parte 12 se centra en pruebas de vibración con frecuencias variables. Estos métodos son esenciales para evaluar el rendimiento y la resistencia de los componentes electrónicos en condiciones ambientales adversas.

NF EN IEC 60749-12:2018 Historia

  • 2018 NF EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: vibraciones, frecuencias variables.

estándares y especificaciones

LST EN 60749-12-2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibraciones, frecuencia variable (IEC 60749-12:2002) UNE-EN IEC 60749-12:2018 semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 12: Vibración, frecuencia variable (Ratificada UNE-EN 60749-12:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración de frecuencia variable. IEC 60749-12:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable IEC 60749-19:2003/AMD1:2010 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Ensayo de resistencia al corte IEC 60749-37:2022 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando un acelerómetro DIN EN 60749-44 E:2014-08 Componentes semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 44: Métodos de ensayo para la irradiación de neutrones por efecto de evento único DIN EN 60749-41 E:2017-04 Métodos de ensayo mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 41: Métodos de ensayo de fiabilidad para componentes de memoria no volátil IEC 60749-5:2023 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura


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